Disclosed are analyte monitoring systems and methods for calibrating an analyte sensor using one or more reference measurements. These systems and methods may include using a conversion function and first sensor data to calculate a first sensor analyte level, weighting a first reference analyte measurement (RM1) and one or more previous reference analyte measurements according to a weighted average cost function, updating the conversion function using the weighted RM1 and the one or more weighted previous reference analyte measurements as calibration points, and using the updated conversion function and second sensor data to calculate a second sensor analyte level. In some aspects, the systems and methods may include updating one or more of lag parameters used to calculate the sensor analyte levels.L'invention concerne des systèmes et des procédés de contrôle d'analyte pour étalonner un capteur d'analyte à l'aide d'une ou de plusieurs mesures de référence. Ces systèmes et procédés peuvent comprendre l'utilisation d'une fonction de conversion et de premières données de capteur afin de calculer un premier niveau d'analyte de capteur, la pondération d'une première mesure d'analyte de référence (RM1) et d'une ou de plusieurs mesures d'analyte de référence précédentes selon une fonction de coût moyen pondéré, la mise à jour de la fonction de conversion à l'aide de la RM1 pondérée et de la ou des mesures d'analyte de référence précédentes pondérées en tant que points d'étalonnage, et l'utilisation de la fonction de conversion mise à jour et de secondes données de capteur afin de calculer un second niveau d'analyte de capteur. Selon certains aspects, les systèmes et procédés peuvent consister à mettre à jour un ou plusieurs paramètres de retard utilisés pour calculer les niveaux d'analyte de capteur.
