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VERFAHREN ZUM ERMITTELN VON ABWEICHUNGEN ZWISCHEN KOORDINATENSYSTEMEN VERSCHIEDENER TECHNISCHER SYSTEME
专利权人:
WAVELIGHT GMBH
发明人:
ABRAHAM, MARIO,MATSCHNIGG, JOACHIM,AGETHEN, JOHANNES,KLAFKE, MARIO
申请号:
EP10717518.4
公开号:
EP2536327A1
申请日:
2010.02.15
申请国别(地区):
EP
年份:
2012
代理人:
摘要:
Ein Verfahren zum Ermitteln von Abweichungen zwischen Koordinatensystemen verschiedener technischer Systeme umfasst die Schritte des Ermittelns einer Koordinatenposition eines Referenzmerkmals (32) eines Testobjekts (26) im Koordinatensystem (u,v) eines ersten der technischen Systeme, das Anbringen mindestens eines Testmerkmals (34) an dem Testobjekt, wobei das Testmerkmal im Koordinatensystem eines zweiten der technischen Systeme an einer Koordinatenposition angebracht wird, die abhängig von der ermittelten Koordinatenposition des Referenzmerkmals (32) festgelegt wird, das Ermitteln einer Koordinatenposition des mindestens einen Testmerkmals (34) oder/und mindestens eines hiervon abgeleiteten Merkmals (36) im Koordinatensystem (u,v) des ersten technischen Systems, und das Ermitteln von Abweichungen zwischen den Koordinatensystemen des ersten und des zweiten technischen Systems zumindest auf der Basis von: a) der ermittelten Koordinatenposition des mindestens einen Testmerkmals (34) oder/und des mindestens einen hiervon abgeleiteten Merkmals (36) im Koordinatensystem (u,v) des ersten technischen Systems, und b) der Koordinatenposition des Referenzmerkmals (32) im Koordinatensystem (u,v) des ersten technischen Systems.The invention relates to a method for determining deviations between coordinate systems of various technical systems comprising the steps of determining a coordinate position of a reference feature (32) of a test object (26) in the coordinate system (u, v) of a first of the technical systems, applying at least one test feature (34) to the test object, wherein the test feature is applied in the coordinate system of a second of the technical systems at a coordinate position that is established according to the determined coordinate position of the reference feature (32), determining a coordinate position of the at least one test feature (34) and/or of at least one feature (36) derived therefrom in the coordinate system (u, v) of the first technical system
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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