Problem to be solved: to provide an X-ray CT resolution evaluation apparatus capable of evaluating spatial resolution with a high accuracy of several tens of micrometers or less.The X-ray CT resolution evaluation apparatus according to the present invention is provided with a base 14, a positioning pin 13 provided on the upper surface of the base 14, a first rectangular block 11 mounted on the upper surface of the base 14 in contact with the positioning pin 13, and a second The second rectangular block 12 placed on the upper surface of the base 14 in contact with the positioning pin 13 and the first rectangular block 11 so that the space with the rectangular block 11 continuously changes in the extending direction of the first rectangular block 11 and the first rectangular block 11, and the first rectangular block RectangularAn X-ray CT apparatus is provided which blocks the block 11 and the second rectangular block 12 in parallel with the upper surface of the base 14 and scans the extending direction of the first rectangular block.Diagram【課題】数十μm以下の高い精度で空間分解能を評価することが可能なX線CT分解能評価装置を提供すること。【解決手段】本発明にかかるX線CT分解能評価装置は、ベース14と、ベース14の上面に設けられた位置決めピン13と、位置決めピン13に接した状態でベース14の上面に載置される第1矩形ブロック11と、第1矩形ブロック11との空間が、当該第1矩形ブロック11の延在方向で連続的に変化するように位置決めピン13と第1矩形ブロック11とに接した状態でベース14の上面に載置される第2矩形ブロック12と、第1矩形ブロック11と第2矩形ブロック12とを、ベース14の上面に対し平行で、且つ第1矩形ブロックの延在方向にCTスキャンする、X線CT装置と、を備える。【選択図】図1
