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超音波測定装置、および超音波測定装置の測定制御方法
专利权人:
SEIKO EPSON CORP
发明人:
MIYASAKA MITSURU,宮坂 満
申请号:
JP2011091804
公开号:
JP2012223267A
申请日:
2011.04.18
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an ultrasonic measurement apparatus improved in robustness to relative positional deviation between a measurement apparatus and a subject.SOLUTION: An ultrasonic oscillator array 10 of the ultrasonic measurement apparatus 2 includes a first array 12 for positioning along a longitudinal direction of the subject to be measured before starting the measurement, and a second array 14 aligning an ultrasonic oscillator array on a straight line in a second axial direction crossing to the first axial direction in which the ultrasonic oscillator of the first array 12 is aligned on a straight line. When a measured value by the first array 12 is determined to be dislocated from positioning, a targeted operation is switched to the second array 14.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】測定装置と被検者との相対位置のズレに対するロバスト性を高めた超音波測定装置の提供。【解決手段】超音波測定装置2の超音波振動子アレイ10は、測定開始前に、測定対象の長手方向に沿って位置合わせされる第1アレイ12と、第1アレイ12の超音波振動子が直線上に配列される第1軸方向に対して交差する第2軸方向に直線上に超音波振動子を配列した第2アレイ14とを備える。第1アレイ12による測定値から位置合わせからずれたと判断される場合、稼動対象を第2アレイ14に切り換える。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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