Die Erfindung betrifft eine autonome Vorrichtung (1) zum Erfassen von Eigenschaften eines Messmediums mit einem Sensor (11), einem ersten Mikrocontroller (9) und einem zweiten Mikrocontroller (3), wobei der erste Mikrocontroller (9) einen Speicherbaustein aufweist, der nicht resistent gegen Gammastrahlung, vorzugsweise bei der Sterilisation der Vorrichtung (1) ist, und wobei der zweite Mikrocontroller (3) einen Speicherbaustein aufweist, der resistent gegen Gammastrahlung, vorzugsweise bei der Sterilisation der Vorrichtung (1) ist.The invention relates to an autonomous device (1) for detecting properties of a measuring medium with a sensor (11), a first microcontroller (9) and a second microcontroller (3), wherein the first microcontroller (9) has a memory module which is not resistant against gamma radiation, preferably in the sterilization of the device (1), and wherein the second microcontroller (3) has a memory module which is resistant to gamma radiation, preferably in the sterilization of the device (1).
