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SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'UN PLAN DE TRAITEMENT POUR TRAITEMENT PAR FAISCEAU D'IONS ACTIFS
专利权人:
RAYSEARCH LABORATORIES AB
发明人:
ENGWALL, Erik
申请号:
EPEP2017/083736
公开号:
WO2018/115079A1
申请日:
2017.12.20
申请国别(地区):
EP
年份:
2018
代理人:
摘要:
A system (100) for determining a treatment plan in active ion beam treatment, to minimize unwanted dose, while maintaining or improving target dose coverage, whereby a beam is split into at least two sub-beams and where each sub-beam has a range shifter of different settings.La présente invention concerne un système (100) destiné à déterminer un plan de traitement dans un traitement par faisceau d'ions actifs, dans le but de réduire au minimum une dose indésirable, tout en maintenant ou en améliorant la couverture de la dose cible, un faisceau étant divisé en au moins deux sous-faisceaux et chaque sous-faisceau ayant un dispositif de décalage de plage de réglages différents.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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