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radiation tomography apparatus and the exposure dose calculation method, and program
专利权人:
ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
发明人:
石原 陽太郎
申请号:
JP2011260480
公开号:
JP5780931B2
申请日:
2011.11.29
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide information which allows more accurate exposure evaluation of an imaging object.SOLUTION: A dose corresponding to the surface of the imaging object or the vicinity is displayed. The dose is calculated on the basis of a radiation dose measured using an X sensor 51 at a position near the surface when scanning to a reference phantom 50 for CTDI measurement is performed, for instance. A position B near the surface on the side right above the phantom 50, which is not affected by attenuation of an X-ray 81 by a cradle 12 is made to serve as the position to measure the radiation dose, so that the dose to be displayed becomes the maximum dose of the doses corresponding to the surface, for instance.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】撮影対象のより正確な被曝評価を可能にする情報を提供する。【解決手段】撮影対象の表面またはその近傍に対応する被曝線量を表示する。この被曝線量は、例えば、CTDI測定用の標準ファントム50に対するスキャンを行ったときにその表面の近傍位置においてXセンサ51を用いて測定された放射線線量に基づいて計算する。放射線線量を測定する位置は、例えば、表示する被曝線量が、表面に対応する被曝線量のうち最大の被曝線量となるように、クレードル12によるX線81の減弱の影響を受けない、ファントム50の真上側の表面の近傍位置Bとする。【選択図】図5
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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