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PHOTODETECTOR, DETECTION APPARATUS, AND DETECTION SYSTEM
专利权人:
TOSHIBA CORP;株式会社東芝
发明人:
KOBAYASHI MITSUYOSHI,小林 光吉,HENMI KAZUHIRO,逸見 和弘,HASEGAWA TSUTOMU,長谷川 励
申请号:
JP2015163012
公开号:
JP2017040581A
申请日:
2015.08.20
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To improve radiation detection accuracy.SOLUTION: A photodetector 20 comprises a scintillator 18, a second layer 52, a photo-detection unit 34, and a first layer 50. The scintillator 18 converts a radiation into light at a longer wavelength than a wavelength of the radiation. The first layer 50 absorbs the radiation. The photo-detection unit 34 is provided between the scintillator 18 and the first layer 50 and detects the light. The second layer 52 is provided between the first layer 50 and the photo-detection unit 34, is smaller in an average atomic weight than the first layer 50, absorbs the radiation, and also absorbs a radiation scattered by the first layer 50 and a fluorescent X-ray generated in the first layer 50 by the radiation incident on the first layer 50.SELECTED DRAWING: Figure 9【課題】放射線の検出精度の向上を図る。【解決手段】光検出器20は、シンチレータ18と、第2の層52と、光検出部34と、第1の層50と、を備える。シンチレータ18は、放射線を放射線より長い波長を有する光に変換する。第1の層50は、放射線を吸収する。光検出部34は、シンチレータ18と第1の層50との間に設けられ、光を検出する。第2の層52は、第1の層50と光検出部34との間に設けられ、第1の層50より平均原子量が小さく、放射線を透過すると共に、第1の層50で散乱された放射線と、第1の層50に入射した放射線により該第1の層50で発生した蛍光X線と、を吸収する。【選択図】図9
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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