藏药佐太的粉末X射线衍射指纹图谱及微观结构形态研究

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作   者：

干泓侠;  冯楠;  李远飞;  顾健;  韩泳平; 

作者机构：

西南民族大学药学院; 

关键词：

滴定法;  质量评价;  全谱拟合;  指纹图谱;  K值法;  立方晶系;  藏药;  X射线衍射;  佐太;  HgS;  微观结构;  斜方晶系;  六方晶系; 

期刊名称：

中草药

i s s n：

0253-2670

年卷期：

2022 年 53 卷 011 期

页   码：

3321-3328

摘   要：

目的 建立藏药佐太的X射线衍射(X-ray diffraction,XRD)指纹图谱;测定佐太中主要物相的成分及含量;检测佐太的微观结构.方法 采用XRD法对15批佐太样品进行分析,建立佐太样品的指纹图谱;通过全谱拟合对佐太样品进行定性和定量分析;运用扫描电子显微镜(SEM)分析佐太微粒的微观特征;运用K值法和滴定法测定佐太中主要成分HgS的含量.结果 建立了佐太的XRD指纹图谱,相似度均达90%以上.确定9个共有峰,2、4~7号共有峰为HgS的特征峰,1、3号共有峰为S的特征峰;全谱拟合结果显示,佐太中主要存在立方晶系HgS(空间群为F-43m 216)、六方晶系HgS(空间群为P3221 154)以及斜方晶系S8(空间群为Fddd 70),其质量分数分别为56.87%、3.570%、39.56%;SEM观测表明佐太的形态为松散的团簇状球状颗粒,粒径大致为200~800 nm.K值法测得15批样品中HgS的总含量平均值为56.90%,与滴定法所测结果基本一致.结论 建立的XRD指纹图谱专属性较强,可作为其质量评价的依据;K值法的应用简易便捷、准确度高,为佐太的含量测定提供重要方法.